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同軸光源 外觀尺寸80*46*47MM，發(fā)光區(qū)域42*38MM。
產(chǎn)品特點：
光線均勻，成像距離遠；
良好的光照方向性，成像清晰且圖像特征明顯；
針對反光工件表面檢測，能夠凸顯表面的不平整，克服反光干擾。
應用領域：
高反光的表面劃傷、缺陷檢測；
芯片和硅晶的破損檢測；
字符、圖案、二維碼、條碼識別。
詳情請下載產(chǎn)品手冊。
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